Trong dự án nghiên cứu ZIM “Span-Detekt”, đang phát triển khả năng giám sát trực quan các quy trình dựa trên AI bằng tính năng cắt liên tục cùng với Rotoclear. Một máy dò phoi được phát triển trong dự án sẽ phát hiện các chip xuất hiện song song với quy trình. Khả năng phát hiện trực quan của phoi trong quá trình cho phép giám sát và phân tích theo thời gian thực bằng cách tích hợp xử lý hình ảnh tiên tiến và học máy.
Lee Hartung, nhân viên của IFW giải thích: “Các chip quan trọng có thể được xác định ngay lập tức và quá trình sản xuất có thể được can thiệp để ngăn ngừa hư hỏng cho máy móc, công cụ hoặc phôi gia công”. Bạn có thể xem phần trình diễn phiên bản đầu tiên của máy dò phoi trong video bên dưới hoặc trên kênh YouTube của.
Hệ thống camera được sử dụng đã được tối ưu hóa để sử dụng trong máy công cụ và có vòng đèn LED tích hợp để chiếu sáng khu vực ghi hình. Hệ thống sẽ được tối ưu hóa để phát hiện phoi trong tương lai. Điểm bắt đầu đầu tiên là cài đặt thời gian phơi sáng.
Theo: https://www.linkedin.com/company/ifw/?lipi=urn%3Ali%3Apage%3Ad_flagship3_feed%3B9gEnKaLHTsu30Jw8nQXLvQ%3D%3D
#machinelearning #AI #span detector Xem phiên dịch
(St.)
Ý kiến bạn đọc (0)